En mätanalysator för att analysera och mäta optiska parametrar för strålar och fokuserade punkter.Den består av en optisk pekenhet, en optisk dämpningsenhet, en värmebehandlingsenhet och en optisk bildenhet.Den är också utrustad med mjukvaruanalysfunktioner och ger testrapporter.
(1) Dynamisk analys av olika indikatorer (energifördelning, toppeffekt, ellipticitet, M2, punktstorlek) inom djupet av fokusområdet;
(2) Brett våglängdssvarsområde från UV till IR (190nm-1550nm);
(3) Multi-spot, kvantitativ, lätt att använda;
(4) Hög skadetröskel till 500W medeleffekt;
(5) Ultrahög upplösning upp till 2,2um.
För enkelstråle eller multistråle och strålfokuseringsparametermätning.
| Modell | FSA500 |
| Våglängd (nm) | 300-1100 |
| NA | ≤0,13 |
| Ingångspupillposition punktdiameter（mm） | ≤17 |
| Genomsnittlig effekt(W) | 1-500 |
| Ljuskänslig storlek (mm) | 5,7x4,3 |
| Mätbar punktdiameter (mm) | 0,02-4,3 |
| Bildhastighet (fps) | 14 |
| Anslutning | USB 3.0 |
Våglängdsområdet för den testbara strålen är 300-1100nm, det genomsnittliga stråleffektområdet är 1-500W, och diametern på den fokuserade punkten som ska mätas sträcker sig från ett minimum av 20μm till 4,3 mm.
Under användning flyttar användaren modulen eller ljuskällan för att hitta den bästa testpositionen och använder sedan systemets inbyggda programvara för datamätning och analys.Mjukvaran kan visa det tvådimensionella eller tredimensionella intensitetsfördelningspassningsdiagrammet för ljusfläckens tvärsnitt och kan även visa kvantitativa data som storlek, ellipticitet, relativ position och intensitet för ljuspunkten i de två -dimensionell riktning.Samtidigt kan strålen M2 mätas manuellt.
